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    玉崎日本EMIC磁粉探傷高強度紫外線強度計

    • 產品型號:UV-D3
    • 更新時間:2024-07-03

    簡要描述:玉崎日本EMIC磁粉探傷高強度紫外線強度計

    磁粉探傷
    高強度紫外線強度計
    可測量高亮度的型號

    型號:UV-D3

    產品詳情

    玉崎日本EMIC磁粉探傷高強度紫外線強度計、玉崎日本EMIC磁粉探傷高強度紫外線強度計


    EMIC電子磁氣工業自 1957 年成立以來,開發和制造了廣泛的磁性應用領域的產品,例如磁粉探傷和渦流探傷的無損檢測設備、充磁/退磁設備以及磁性測量設備,作為一個磁專家小組。我去了那里。

    我們重視的是傾聽客戶隱藏的聲音,通過時代的制造為世界做出貢獻。此外,我們不僅是一家提供產品的公司,也是一家為未來的安全和安保提供保障的磁性咨詢公司。

    作為一家以發展為導向的公司,我們將不斷以技術開拓未來。我們將滿足您的要求。


    業務內容無損檢測設備、充退磁設備、磁性測量設備、其他磁性應用產品及相關耗材的設計、制造和銷售






    磁粉探傷

    高強度紫外線強度計

    可測量高亮度的型號

    型號:UV-D3

    概述

    用于控制紫外線強度。

    用于控制黑光的紫外線強度。

    波長為355-375納米(nm)

    具有峰值保持功能。

    易于閱讀的數字顯示。

    規格

    模型UV-D3
    輸入功率2 節 AAA 電池
    測量范圍0至45mW/?
    測量精度6mW/cm2以下:6mW/cm2的±5%
    體重約250克



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